• Посилання скопійовано
Документ підготовлено в системі iplex

Про затвердження Порядку здійснення державного контролю за міжнародними передачами товарів подвійного використання

Кабінет Міністрів України  | Постанова, Перелік, Список, Порядок від 28.01.2004 № 86
Редакції
Реквізити
  • Видавник: Кабінет Міністрів України
  • Тип: Постанова, Перелік, Список, Порядок
  • Дата: 28.01.2004
  • Номер: 86
  • Статус: Документ діє
  • Посилання скопійовано
Реквізити
  • Видавник: Кабінет Міністрів України
  • Тип: Постанова, Перелік, Список, Порядок
  • Дата: 28.01.2004
  • Номер: 86
  • Статус: Документ діє
Редакції
Документ підготовлено в системі iplex
| | організації (ІНО) згідно з | |
| | Порядком 1а Стандарту (5 Версія, | |
| | лютий 2008 р.) для Гідрографічних | |
| | спостережень або краще та | |
| | використовує 1 або більше лазерів | |
| | з довжиною хвилі понад 400 нм, | |
| | але не більше 600 нм. | |
|----------+-----------------------------------------------------|
|Примітки. |1. LIDAR обладнання, спеціально призначене тільки для|
| |геодезії, зазначеної у позиції 6.A.8.j.3. |
| |2. Згідно з позицією 6.A.8.j контролю не підлягає |
| |LIDAR обладнання, спеціально призначене для |
| |метеорологічного спостереження. |
| |3. Параметри ІНО Порядку 1а Стандарту 5 Версія, лютий|
| |2008 р. підсумовані як такі: |
| |1) точність визначення місцезнаходження (рівень |
| |точності 95%) = 5 м + 5% глибини. |
| |2) точність визначення глибини на обмеженій глибині |
| | |
| | ---------------- |
| |(рівень точності 95%) = +- | 2 2 |
| | \|a + (b + d) , |
| | |
| |де: |
| |a = 0,5 м - стала відхилення за глибиною, тобто сума |
| |всіх сталих відхилень за глибиною |
| |b = 0,013 - фактор залежного відхилення |
| |b*d - залежна відхилення за глибиною, тобто сума всіх|
| |сталих відхилень за глибиною |
| |d - глибина, |
| |Виявлення ознак = кубічні ознаки > 2 м на глибині до |
| |40 м; |
| |10% глибини більше ніж 40 м. |
|----------+-----------------------------------------------------|
| |k) РЛС, які мають підсистеми |з 8525 |
| | "оброблення сигналу", що | |
| | використовують "стискання імпульсу"| |
| | і мають будь-яку з наведених нижче | |
| | характеристик: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) коефіцієнт "стискання імпульсу" | |
| | понад 150; або | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 2) тривалість імпульсу менше ніж | |
| | 200 нс; або | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.A.8. |1) РЛС, які мають підсистеми |з 8525 |
| | "оброблення сигналу" та будь-яку з | |
| | наведених нижче характеристик: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) "автоматичне супроводження цілей",| |
| | яке забезпечує під час будь-якого | |
| | обертання антени передбачуване | |
| | положення цілі поза часом | |
| | проходження наступного променя | |
| | антени; | |
|----------+-----------------------------------------------------|
|Примітка. |Згідно з позицією 6.A.8.l.1 контролю не підлягають |
| |засоби видачі сигналу для запобігання зіткненням у |
| |системах керування повітряним рухом (ATC), морських |
| |або портових РЛС. |
|----------+-----------------------------------------------------|
| | 2) розрахунок швидкості цілі від | |
| | активної РЛС, яка має неперіодичну| |
| | (змінну) частоту сканування; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 3) оброблення для автоматичного | |
| | розпізнавання образів (виділення | |
| | ознак) та порівняння з базами | |
| | даних характеристик цілей | |
| | (сигналів або образів) для | |
| | ідентифікації або | |
| | класифікації цілей; або | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 4) накладення, кореляція або злиття | |
| | даних про цілі від двох або більше| |
| | "географічно рознесених" і | |
| | "взаємозв'язаних чутливих | |
| | елементів РЛС" для поліпшення | |
| | розпізнавання цілей. | |
|----------+-----------------------------------------------------|
|Примітка. |Згідно з позицією 6.A.8.l.4 контролю не підлягають |
| |системи, обладнання та вузли, що використовуються для|
| |здійснення контролю за морським рухом. |
|----------+-----------------------------------------------------|
|6.B. |ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ВИПРОБУВАННЯ, КОНТРОЛЮ | |
| |І ВИРОБНИЦТВА | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.B.1. |АКУСТИКА | |
| |Відсутня | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.B.2. |ОПТИЧНІ ДАТЧИКИ | |
| |Відсутні | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.B.3. |КАМЕРИ | |
| |Відсутні | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
| |ОПТИКА | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.B.4. |Оптичне обладнання, наведене нижче: |з 9031, |
|[6B004] | |9031 90 90 |
| |--------------------------------------+--------------|
| |a) обладнання для вимірювання |9031 41 00 00,|
| | абсолютної здатності до відбивання |9031 49 90 00 |
| | (віддзеркалення) з точністю +- 0,1%| |
| | значення здатності відбивання | |
| | (віддзеркалення); | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |b) обладнання, інше, ніж обладнання |9031 41 00 00,|
| | для вимірювання розсіювання |9031 49 90 00 |
| | оптичної поверхні, яке має | |
| | незатемнену апертуру понад 10 см, | |
| | спеціально призначене для | |
| | безконтактного оптичного | |
| | вимірювання форми (профілю) | |
| | неплоскої оптичної поверхні з | |
| | "точністю" до 2 нм або менше | |
| | (краще) від потрібного профілю. | |
|----------+-----------------------------------------------------|
|Примітка. |Згідно з позицією 6.B.4 контролю не підлягають |
| |мікроскопи. |
|----------+-----------------------------------------------------|
|6.B.5. |ЛАЗЕРИ | |
| |Відсутні | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.B.6. |ДАТЧИКИ МАГНІТНОГО ТА ЕЛЕКТРИЧНОГО | |
| |ПОЛЯ | |
| |Відсутні | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
| |ГРАВІМЕТРИ | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.B.7. |Обладнання для виробництва, |9031 80 39 10,|
|[6B007] |юстирування та калібрування |9031 80 39 98,|
| |гравіметрів наземного базування із |9031 90 90 90 |
| |статичною точністю краще ніж 0,1 мгал.| |
|----------+--------------------------------------+--------------|
| |РАДІОЛОКАЦІЙНІ СИСТЕМИ | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.B.8. |Імпульсні радіолокаційні системи для |8526 10 90 00 |
|[6B008] |вимірювання поперечного перерізу, які | |
| |мають тривалість імпульсів, що | |
| |передаються, 100 нс або менше, і | |
| |"спеціально призначені компоненти" для| |
| |них. | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.C. |МАТЕРІАЛИ | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.C.1. |АКУСТИКА | |
| |Відсутня | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
| |ОПТИЧНІ ДАТЧИКИ | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.C.2. |Матеріали для оптичних датчиків, | |
|[6C002] |наведені нижче: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |a) хімічно чистий первинний телур (Te)|2804 50 90 00 |
| | з рівнями чистоти 99,9995% або | |
| | більше; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |b) монокристали (включаючи |3818 00 90 00,|
| | епітаксиальні підкладки), |8107 90 00 00 |
| | виготовлені з будь-якого з | |
| | наведених нижче матеріалів: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) телуриду кадмію цинку (CdZnTe) з | |
| | вмістом цинку менше ніж 6% за | |
| | мольною фракцією; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 2) телуриду кадмію (CdTe) будь-якого | |
| | рівня чистоти; або | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 3) телуриду кадмію ртуті (HgCdTe) | |
| | будь-якого рівня чистоти. | |
|----------+-----------------------------------------------------|
|Технічна |Мольна фракція визначається як відношення молей ZnTe |
|примітка. |до суми молей CdTe та ZnTe, що містяться в кристалі. |
|----------+-----------------------------------------------------|
|6.C.3. |КАМЕРИ | |
| |Відсутні | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
| |ОПТИКА | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.C.4. |Оптичні матеріали, наведені нижче: | |
|[6C004] |--------------------------------------+--------------|
| |a) селенід цинку (ZnSe) та сульфід |2842 90 10 00,|
| | цинку (ZnS) у вигляді "необроблених|2830 20 00 00 |
| | підкладок", виготовлених хімічним | |
| | осадженням парів, які мають | |
| | будь-яку з наведених нижче | |
| | характеристик: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) об'єм понад 100 куб.см; або | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 2) діаметр понад 80 мм, товщину 20 мм| |
| | або більше; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |b) зливки електрооптичних матеріалів, | |
| | наведені нижче: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) арсенат титаніл калію (КТА); |2842 90 90 00 |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 2) срібний селенід галію (AgGaSe ); |2842 90 10 00 |
| | 2 | |
| | або | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 3) талієвий селенід миш'яку |2842 90 10 00 |
| | (Tl AsSe , відомий також як TAS); | |
| | 3 3 | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |c) нелінійні оптичні матеріали, які |7020 00 05 00,|
| | мають усі наведені нижче |7020 00 80 00 |
| | характеристики: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) чутливість третього порядку (chi3)| |
| | -6 | |
| | 1 х 10 кв.м/кв.В або більше; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 2) час відгуку менше ніж 1 мс. | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |d) "необроблені підкладки" з осаджених|2849 20 00 10,|
| | матеріалів карбіду кремнію або |2849 20 00 90,|
| | берилію/берилію (Ве/Be) діаметром |8112 19 00 00 |
| | або довжиною головної осі понад | |
| | 300 мм; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |e) скло, у тому числі розплави |7001 00 99 00,|
| | кремнію, фосфатне скло, |7020 00 05 00,|
| | фторфосфатне скло, фторид цирконію |7020 00 80 00 |
| | (ZrF ) і фторид гафнію (HfF ), | |
| | 4 4 | |
| | що має усі наведені нижче | |
| | характеристики: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) концентрацію гідроксильних іонів | |
| | | |
| | (OH-) менше ніж 5 частин на | |
| | мільйон; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 2) інтегральні рівні чистоти металів | |
| | менше ніж 1 частина на мільйон; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 3) високу однорідність (варіацію | |
| | показника коефіцієнта заломлення) | |
| | -6 | |
| | менше ніж 5 х 10 ; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |f) синтетичний алмазний матеріал з |7104 90 00 00,|
| | -5 -1 |7105 10 00 10,|
| | поглинанням менше ніж 10 см на |7105 10 00 90 |
| | довжині хвилі понад 200 нм, але не | |
| | більше ніж 14000 нм. | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
| |ЛАЗЕРИ | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.C.5. |Кристалічні основи "лазерів" у |7103 10 00 00 |
|[6C005] |необробленому вигляді, наведені | |
| |нижче: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |a) сапфір, легований титаном; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |b) олександрит. | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.C.6. |ДАТЧИКИ МАГНІТНОГО ТА ЕЛЕКТРИЧНОГО | |
| |ПОЛЯ | |
| |Відсутні | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.C.7. |ГРАВІМЕТРИ | |
| |Відсутні | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.C.8. |РАДІОЛОКАЦІЙНІ СИСТЕМИ | |
| |Відсутні | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.D. |ПРОГРАМНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|[6D001] |1) "програмне забезпечення", |з 8524 |
| | спеціально призначене для | |
| | "розроблення" або "виробництва" | |
| | обладнання, що підлягає контролю | |
| | згідно з позиціями 6.A.4, 6.A.5, | |
| | 6.A.8 або 6.B.8; | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|[6D002] |2) "програмне забезпечення", |з 8524 |
| | спеціально призначене для | |
| | "використання" обладнання, що | |
| | підлягає контролю згідно з | |
| | позиціями 6.A.2.b, 6.A.8 або 6.B.8;| |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|[6D003] |3) інше "програмне забезпечення", |з 8524 |
| | наведене нижче: | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
| |АКУСТИКА | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.D.3. |a) "програмне забезпечення", наведене | |
| | нижче: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) "програмне забезпечення", | |
| | спеціально призначене для | |
| | формування акустичного променя | |
| | для оброблення "в реальному | |
| | масштабі часу" акустичних даних | |
| | для пасивного приймання з | |
| | використанням гідрофонних ґраток, | |
| | що буксируються; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 2) "вихідний код" для оброблення "в | |
| | реальному масштабі часу" | |
| | акустичних даних для пасивного | |
| | приймання з використанням | |
| | гідрофонних ґраток, що | |
| | буксируються; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 3) "програмне забезпечення", | |
| | спеціально призначене для | |
| | формування акустичного променя | |
| | для оброблення "в реальному | |
| | масштабі часу" акустичних | |
| | даних для пасивного приймання з | |
| | використанням донних або занурених| |
| | кабельних систем; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 4) "вихідний код" для оброблення "в | |
| | реальному масштабі часу" | |
| | акустичних даних для пасивного | |
| | приймання з використанням | |
| | кабельних мереж, установлених | |
| | на дні. | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.D.3. |b) ОПТИЧНІ ДАТЧИКИ | |
| |Відсутні | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
| |КАМЕРИ | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.D.3. |c) "програмне забезпечення" призначене| |
| | або модифіковане для камер, які | |
| | містять "гратки фокальної площини",| |
| | зазначені в позиції 6.A.2.a.3.f та | |
| | призначені або модифіковані для | |
| | обмеження переміщення (зміни) | |
| | частоти кадрів та дозволяє камері | |
| | збільшувати частоту кадрів згідно | |
| | з Приміткою 3.а позицієї 6.A.3.b.4 | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.D.3. |d) ОПТИКА | |
| | Відсутня | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.D.3. |e) ЛАЗЕРИ | |
| | Відсутні | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
| |ДАТЧИКИ МАГНІТНОГО ТА ЕЛЕКТРИЧНОГО | |
| |ПОЛЯ | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.D.3. |f) "програмне забезпечення", наведене | |
| | нижче: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) "програмне забезпечення", | |
| | спеціально призначене для | |
| | "компенсаційних систем" датчиків | |
| | магнітного та електричного поля, | |
| | призначених для функціонування на | |
| | рухомих платформах; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 2) "програмне забезпечення", | |
| | спеціально призначене для | |
| | виявлення аномалій магнітного | |
| | та електричного поля | |
| | на рухомих платформах; | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
| |ГРАВІМЕТРИ | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.D.3. |g) "програмне забезпечення", | |
| | спеціально призначене для корекції | |
| | впливу руху гравіметрів або | |
| | гравітаційних градіометрів; | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
| |РАДІОЛОКАЦІЙНІ СИСТЕМИ | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.D.3. |h) "програмне забезпечення", наведене | |
| | нижче: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) "програмне забезпечення", придатне| |
| | для "програм" керування повітряним| |
| | рухом на комп'ютерах загального | |
| | призначення, що розташовані у | |
| | диспетчерських центрах керування | |
| | повітряним рухом, і має будь-яку з| |
| | наведених нижче характеристик: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | a) оброблення та відображення понад | |
| | 150 одночасних "системних | |
| | траєкторій"; або | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | b) приймання РЛС - інформації про | |
| | цілі від чотирьох первинних РЛС | |
| | або більше; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 2) "програмне забезпечення" для | |
| | "розроблення" або "виробництва" | |
| | антенних обтічників, які: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | a) спеціально призначені для захисту| |
| | "фазованих антенних ґраток з | |
| | електронним керуванням діаграми | |
| | направленості", наведених у | |
| | позиції 6.A.8.e; та | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | b) забезпечують діаграму | |
| | спрямованості антени з | |
| | "середнім рівнем бокових | |
| | пелюсток" більше ніж на 40 дБ | |
| | нижчим від максимального рівня | |
| | головного променя. | |
|----------+-----------------------------------------------------|
|Технічна |Середній рівень бокових пелюсток, зазначений у |
|примітка. |позиції 6.D.3.h.2.b, вимірюється для усієї ґратки |
| |повністю, за винятком діапазону кутів, у які входять |
| |головний промінь і перші дві бокові пелюстки з обох |
| |боків головного променя. |
|----------+-----------------------------------------------------|
|6.E. |ТЕХНОЛОГІЯ, ПОСЛУГИ ТА РОБОТИ | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.E.1. |"Технологія" відповідно до пункту 3 |з 3705, 3706, |
|[6E001] |загальних приміток для "розроблення" |з 8524, |
| |обладнання, матеріалів або |4901 99 00 00,|
| |"програмного забезпечення", що |4906 00 00 00 |
| |підлягають контролю згідно з позиціями| |
| |6.A, 6.B, 6.C або 6.D. | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.E.2. |"Технологія" відповідно до пункту 1 |з 3705, 3706, |
|[6E002] |особливих приміток для "виробництва" |з 8524, |
| |обладнання і матеріалів, що підлягають|4901 99 00 00,|
| |контролю згідно з позиціями 6.A, 6.B |4906 00 00 00 |
| |або 6.C. | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.E.3. |Інші "технології", наведені нижче: |з 3705, 3706, |
|[6E003] | |з 8524, |
| | |4901 99 00 00,|
| | |4906 00 00 00 |
| |--------------------------------------+--------------|
| |a) АКУСТИКА | |
| |Відсутні | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |b) ОПТИЧНІ ДАТЧИКИ | |
| |Відсутні | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |c) КАМЕРИ | |
| |Відсутні | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |ОПТИКА | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |d) "технологія", наведена нижче: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) "технологія" оброблення та | |
| | покриття оптичних поверхонь, | |
| | "необхідна" для досягнення | |
| | однорідності 99,5% або краще для | |
| | оптичних покриттів із діаметром | |
| | або довжиною головної осі 500 мм | |
| | або більше та із загальними | |
| | втратами (поглинання і | |
| | -3 | |
| | розсіювання) менше ніж 5 х 10 ; | |
|----------+-----------------------------------------------------|
|Особлива |Див. також позицію 2.E.3.f. |
|примітка. | |
|----------+-----------------------------------------------------|
| | 2) "технологія" оптичного виробництва| |
| | із застосуванням методів | |
| | одноточкового обертання алмазів з | |
| | одержанням кінцевої | |
| | середньоквадратичної точності | |
| | оброблення поверхні краще ніж | |
| | 10 нм на неплоских поверхнях | |
| | площею понад 0,5 кв.м; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |ЛАЗЕРИ | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |e) "технологія", "необхідна" для | |
| | "розроблення", "виробництва" або | |
| | "використання" спеціально | |
| | призначених діагностичних | |
| | приладів або мішеней у | |
| | випробувальному обладнанні для | |
| | випробування "надпотужних лазерів" | |
| | або випробувань чи аналізу | |
| | матеріалів, опромінених променями | |
| | "надпотужних лазерів"; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |f) ДАТЧИКИ МАГНІТНОГО ТА ЕЛЕКТРИЧНОГО | |
| | ПОЛЯ - не використовуються з | |
| | 2004 року; | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |g) ГРАВІМЕТРИ | |
| | Відсутні | |
| |--------------------------------------+--------------|
| |h) РАДІОЛОКАЦІЙНІ СИСТЕМИ | |
| | Відсутні | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|6.E.4. |"Послуги та роботи" (відповідно до | |
| |особливої примітки щодо послуг та | |
| |робіт) стосовно товарів подвійного | |
| |використання, зазначених у позиціях | |
| |6.A., 6.B., 6.C., 6.D. або 6.E. | |
------------------------------------------------------------------
Розділ 7. НАВІГАЦІЙНІ СИСТЕМИ ТА АВІАЦІЙНА РАДІОЕЛЕКТРОНІКА
------------------------------------------------------------------
| Номер | Найменування та опис товарів за | Код |
| позиції | відповідними групами | товару |
| | | згідно з |
| | | УКТЗЕД |
| | | ( 2371а-14 ), |
| | | ( 2371б-14 ), |
| | | ( 2371в-14 ), |
| | | ( 2371г-14 ) |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|7. |НАВІГАЦІЙНІ СИСТЕМИ ТА АВІАЦІЙНА | |
| |РАДІОЕЛЕКТРОНІКА | |
|----------+--------------------------------------+--------------|
|7.A. |СИСТЕМИ, ОБЛАДНАННЯ І КОМПОНЕНТИ | |
|----------+-----------------------------------------------------|
|Особлива |Автопілоти для підводних апаратів розглядаються у |
|примітка. |Розділі 8, РЛС - у Розділі 6. |
|----------+-----------------------------------------------------|
|7.A.1. |Лінійні акселерометри, наведені | |
| |нижче, і "спеціально призначені | |
| |компоненти" для них: | |
|----------+-----------------------------------------------------|
|Особлива |Кутові або обертові акселерометри розглядаються в |
|примітка. |позиції 7.A.1.b. |
|----------+-----------------------------------------------------|
| |a) лінійні акселерометри, що мають | |
| | будь-яку з наведених нижче | |
| | характеристик: | |
| |--------------------------------------+--------------|
| | 1) специфіковані для функціонування | |
| | при рівнях лінійного прискорення | |